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Búsqueda : CHAPARRO, JULIAN [Autor]
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 Yong Varela, Luis Antonio, Rivas Tovar, Luis Arturo and Chaparro, Julián Modelo de aceptación tecnológica (TAM): un estudio de la influencia de la cultura nacional y del perfil del usuario en el uso de las TIC. Innovar, Ene 2010, vol.20, no.36, p.187-203. ISSN 0121-5051

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