Abstract

DUSSAN CUENCA, Anderon; QUIROZ GAITAN, Heiddy Paola  and  SENA GAIBAO, Neyder Jesús. IDENTIFICAÇÃO DUMA NOVA FASE NA ESTRUTURA CRISTALINA DO COMPOSTO QUATERNARIO Cu₂ZnSnSe₄ DURANTE A ETAPA DE INCORPORAÇÃO DO ZnSe. Rev.EIA.Esc.Ing.Antioq [online]. 2014, n.spe1, pp.25-29. ISSN 1794-1237.

Neste trabalho apresenta-se um estudo das propriedades estruturais de películas finas do composto Cu₂ZnSnSe₄ variando tanto a massa quanto a temperatura do substrato no qual foi evaporado (T_s) o composto binário ZnSe. Todas as amostras foram depositadas com o método de co-evaporação n em três etapas e mantendo constante os outros parâmetros. A partir das medidas de difração de raios x foi possível estabelecer com o incremento da T_s a presença de fases binárias associadas ao composto quaternário durante o processo de crescimento do material. Encontrou-se que ao redor do pico principal, 2θ = 27,1°, predominam as fases binárias e a presença do ZnSe que se forma durante a siguente etapa de selenização do material. Um tip de bifurcação no pico principal (2θ = 27,1°) foi observado para a transição entre M_ZnSe = 0,153 g a 0,171 g. Medidas de difração de raios x foram realizadas ao composto binário puro, observou-se uma correspondência com os picos encontrados ao redor do pico principal do composto. Um estudo a través de espectroscopia Raman evidenciou corrimentos Raman associados aos compostos binários observados por XRD. A partir da equação de Scherrer encontrou-se que os tamanhos dos cristalitos variavam entre 80 e 90 nm.

Keywords : Structural Proprieties; X-Ray; Quaternary Compounds; Propriedades estruturais; Raios X; Compostos quaternários.

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